反射光顯微鏡 蘇州昂森諾 粒度分析是采用顯微鏡圖像法測試粒徑大小、顆粒形狀及顆粒顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。廣泛適用于API原料藥，藥物晶型分析、生物醫(yī)藥、磨料、電池、非金屬礦、粉末冶金、石油能源、涂料、顏料、陶瓷、食品等域的各種粉體顆粒的粒度大小、形狀特征觀察和測量。

工作原理是通過用高分辨率數(shù)字攝像機和光學(xué)顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸?shù)接嬎銠C中，用我們的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析，并通過顯示器和打印機輸出分析結(jié)果。該儀器具有直觀、可視、準確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數(shù)全面等特點。

反射光顯微鏡 蘇州昂森諾 粒度分析技術(shù)參數(shù)：

1、準確性：＜3%。

2、攝像機：1800萬像素。

3、粒徑范圍：200nm-3000μm。

4、粒度統(tǒng)計：體積、面積、顆粒。

5、配置奧林巴斯顯微鏡，成像更加清晰。

6、可以得到常規(guī)的平均粒徑，D10，D50，D90等參數(shù)。

7、軟件自動進行統(tǒng)計樣品顆粒，并對顆粒進行做粒度分布。

8、粒徑參數(shù)：等效面積圖、等效周長圓、等效短徑、等效長徑等。

9、形狀參數(shù)：圖度、球形度、凸起度、實積度、延伸度、長徑比、長寬比、橢圓度。